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                        高溫四探針測(cè)試儀上市了
日期:2025-05-09 23:37
            瀏覽次數(shù):634
        
            摘要:高溫四探針測(cè)試系統(tǒng)
 
 1.測(cè)量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率;
 2.、觸摸屏、高溫爐等集成于一體,可以進(jìn)行可視化操作;
 3.現(xiàn)純凈氣氛條件下的測(cè)量;同時(shí)保證探針在高溫下不氧化;
 4.labview軟件開發(fā),操控性、兼容性好、方便升級(jí);
 5.動(dòng)調(diào)節(jié)樣品測(cè)試電壓,探針和薄膜接觸閃絡(luò)現(xiàn)象;
 6.和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度;
 7.套使用Keithley2400或2600數(shù)字多用表;
        
    
